Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"Jedidi, Nader"'
Autor:
Jedidi, Nader
Cette thèse porte sur le développement d‘outils de contrôle avancé des procédés appliqués à l'industrie microélectronique. Des analyses statistiques ont mis en évidence la longueur de grille en poly-silicium comme principal responsable de
Autor:
Jedidi, Nader
Publikováno v:
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne, 2009. Français
With pattern dimensions decreasing in CMOS technology, the variability in device parametric characteristics such as transistor drive currents is increased, resulting in device yield degradation. To address this variability, we focused on the developm
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::334f56fccc27ff4291e36d38a3683159
https://theses.hal.science/tel-00463241
https://theses.hal.science/tel-00463241
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ecoffey, Serge, Morissette, Jean-Francois, Jedidi, Nader, Guilmain, Marc, Nauenheim, Christian, Drouin, Dominique
Publikováno v:
2011 11th IEEE International Conference on Nanotechnology; 1/ 1/2011, p1689-1692, 4p
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing; 05/01/2011, Vol. 24 Issue 2, p273-279, 7p
Autor:
El Kissi Y; Service de Psychiatrie, CHU Farhat Hached Avenue Ibn Jazzar, Sousse, Tunisie., Ben Nasr S, Ayachi M, Jedidi N, Ghnaya H, Ben Hadj Ali B
Publikováno v:
La Tunisie medicale [Tunis Med] 2009 Nov; Vol. 87 (11), pp. 737-41.