Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Jean Huc"'
Publikováno v:
Thin Solid Films. :47-52
A new Mueller matrix ellipsometer (MME) is presented. It provides the simultaneous measurement of the 16 Mueller matrix coefficients in four modulation periods (80 μs under the present conditions). This system is accurate (error≤1%), robust since
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0c747b63fead4d575a637a415abf4802
https://doi.org/10.1016/s0040-6090(97)00767-0
https://doi.org/10.1016/s0040-6090(97)00767-0
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.