Výsledky vyhledávání - "Jaroslav Jiruše"

Akademický článek

High Spatial Resolution Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry for the Masses: A Novel Orthogonal ToF FIB-SIMS Instrument with In Situ AFM

Autor: James A. Whitby, Fredrik Östlund, Peter Horvath, Mihai Gabureac, Jessica L. Riesterer, Ivo Utke, Markus Hohl, Libor Sedláček, Jaroslav Jiruše, Vinzenz Friedli, Mikhael Bechelany, Johann Michler

Publikováno v: Advances in Materials Science and Engineering, Vol 2012 (2012)

We describe the design and performance of an orthogonal time-of-flight (TOF) secondary ion mass spectrometer that can be retrofitted to existing focused ion beam (FIB) instruments. In particular, a simple interface has been developed for FIB/SEM inst

Externí odkaz: https://doaj.org/article/eaeebff03f0a452da05750683fcaff68

Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání