Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Janssen, J.P.B."'
Autor:
Bekman, H.H.P.T., Dekker, M.F., Ebeling, R.P., Janssen, J.P.B., Koster, N.B., Meijlink, J.R., Molkenboer, F.T., Nicolai, K., Putten, M. van, Rijnsent, C.G.J., Storm, A.J., Stortelder, J.K., Wu, C.C., Zanger, R.M.S. de
Publikováno v:
Proceedings International Conference on Extreme Ultraviolet Lithography 2019, SPIE Photomask Technology + EUV Lithography, 2019, Monterey, CA, USA, 11147
Adoption of EUV lithography for high-volume production is accelerating. TNO has been involved in lifetime studies from the beginning of the EUV alpha demo tools. One of the facilities for these studies is the EUV Beam Line (EBL1) designed and install
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::e25c67dc58f9b58d613916dbdb080664
http://resolver.tudelft.nl/uuid:9473b2f5-ffd9-4a31-b37a-a472e816ec53
http://resolver.tudelft.nl/uuid:9473b2f5-ffd9-4a31-b37a-a472e816ec53
Publikováno v:
4th European Survivability Workshop (ESW-2008), 15-17th April 2008, QinetiQ Malvern Technology Centre, UK.
Front-end power overload protection is a vital issue in any electro-magnetic sensor. The issues around active electronically-steered arrays are more recent and pose new threats. Different categories of threats can damage the sensitive electronics in
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::89e7d4a64e40a4b462f016482ea4416e
http://resolver.tudelft.nl/uuid:e92b3e2c-49ae-40f9-9161-5e40c1264470
http://resolver.tudelft.nl/uuid:e92b3e2c-49ae-40f9-9161-5e40c1264470
Publikováno v:
ARMMS conference, 7-8 april 2008, Steventon, UK
The increasing demand of frequency bandwidth for broadband wireless applications results in surveys to new frequency bands, suitable for high data-rate applications. The 60 GHz band is one of the candidates for this type of applications. Due to the h
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::d2c61040bde7e491b3b1308c588074b3
http://resolver.tudelft.nl/uuid:e2b2bd3d-f0b7-43de-926a-34105d349996
http://resolver.tudelft.nl/uuid:e2b2bd3d-f0b7-43de-926a-34105d349996
Autor:
Janssen, J.P.B., van Heijningen, M., Visser, G.C., Rodenburg, M., Johnson, H.K., Uren, M.J., Morvan, E., van Vliet, F.E.
Publikováno v:
2009 European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC); 2009, p101-104, 4p
Publikováno v:
2007 European Radar Conference; 2007, p17-20, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.