Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"Janghwan Lee"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
ICASSP 2023 - 2023 IEEE International Conference on Acoustics, Speech and Signal Processing (ICASSP).
Publikováno v:
SID Symposium Digest of Technical Papers. 53:971-974
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Janghwan Lee
Publikováno v:
SID Symposium Digest of Technical Papers. 52:200-203
Autor:
Janghwan Lee, Jungwook Choi
Publikováno v:
2022 IEEE 4th International Conference on Artificial Intelligence Circuits and Systems (AICAS).
Publikováno v:
SID Symposium Digest of Technical Papers. 51:1210-1213
Publikováno v:
ACM Multimedia
Multi-modal machine learning has been a prominent multi-disciplinary research area since its success in complex real-world problems. Empirically, multi-branch fusion models tend to generate better results when there is a high diversity among each bra
Publikováno v:
2021 32nd Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC).
Process control in display mass production needs defect layer identification to estimate the process that causes fault conditions, which is crucial for quality fault prediction and monitoring. Defect layer identification is a labor-intensive task tha