Výsledky vyhledávání - "Janeiro, Abel"

Conference

New approach for assessment of dielectric layer adhesion strength, demonstrated on eWLB FO-WLP interfaces.

Autor: Teixeira, Jorge, Pinto, Raquel, Janeiro, Abel, Cardoso, Paulo, Ribeiro, Mario

Publikováno v: 2013 European Microelectronics Packaging Conference (EMPC); 2013, p1-8, 8p

Zobrazit plný text záznamu

Periodical

WLFO Packaging Technology-based WLSiP - Enabler for Packaging of IoT/IoE Modules.

Autor: Kroehnert, Steffen, Campos, José, Cardoso, André, O'Toole, Eoin, Janeiro, Abel

Publikováno v: Advancing Microelectronics; May/Jun2017, Vol. 44 Issue 3, p6-10, 5p

Zobrazit plný text záznamu