Zobrazeno 1 - 10
of 40
pro vyhledávání: '"Jaenen, Patrick"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Peterson, Brennan, Wise, Rich, van der Straten, Koen, Viatkina, Katja, Luca, Melisa, Mokhlespour, Salman, Kubis, Michael, Cattani, Giordano, Hellin, David, Sobieski, Daniel, Dixit, Girish, Shamma, Nader, Rutigliani, Vito, Jaenen, Patrick, Halder, Sandip, Leray, Philippe
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 1/14/2018, Vol. 10586, p1-8, 8p
Autor:
Hohle, Christoph K., Gronheid, Roel, Peterson, Brennan, Wise, Rich, van der Straten, Koen, Viantka, Katja, Luca, Melisa, Mokhlespour, Salman, Kubis, Michael, Cattani, Giordano, Hellin, David, Sobieski, Daniel, Dixit, Girish, Shamma, Nader, Rutigliani, Vito, Jaenen, Patrick, Halder, Sandip, Leray, Philippe
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2018, Vol. 10586 Issue: 1 p105860A-105860A-8, 952749p
Autor:
Sanchez, Martha I., Ukraintsev, Vladimir A., Wallow, Thomas I., Zhang, Chen, Fumar-Pici, Anita, Chen, Jun, Laenens, Bart, Spence, Christopher A., Rio, David, van Adrichem, Paul, Dillen, Harm, Wang, Jing, Yang, Peng-Cheng, Gillijns, Werner, Jaenen, Patrick, van Roey, Frieda, van de Kerkhove, Jeroen, Babin, Sergey
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2017, Vol. 10145 Issue: 1 p101451Q-101451Q-1, 913061p
Autor:
Erdmann, Andreas, Kye, Jongwook, Kubis, Michael, Wise, Rich, Chahine, Charlotte, Viatkina, Katja, Ur-Rehman, Samee, Simons, Geert, Dusa, Mircea, Hellin, David, Sobieski, Daniel, Zhang, Wenzhe, Jehoul, Christiane, Jaenen, Patrick, Leray, Philippe
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2017, Vol. 10147 Issue: 1 p101470H-101470H-9, 913240p
Autor:
Civale, Yann, Van Huylenbroeck, Stefaan, Redolfi, Augusto, Guo, Wei, Gavan, Khashayar Babaei, Jaenen, Patrick, Manna, Antonio La, Beyer, Gerald, Swinnen, Bart, Beyne, Eric
Publikováno v:
2013 IEEE 63rd Electronic Components & Technology Conference; 2013, p1420-1424, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Civale, Yann, Redolfi, Augusto, Jaenen, Patrick, Kostermans, Maarten, Van Besien, Els, Mertens, Sofie, Witters, Thomas, Jourdan, Nicolas, Armini, Silvia, El-Mekki, Zaid, Vandersmissen, Kevin, Philipsen, Harold, Verdonck, Patrick, Heylen, Nancy, Nolmans, Philip, Yunlong Li, Croes, Kristof, Beyer, Gerald, Swinnen, Bart, Beyne, Eric
Publikováno v:
2012 35th IEEE/CPMT International Electronics Manufacturing Technology Conference (IEMT); 2012, p1-5, 5p
Autor:
Wiaux, Vincent, Verhaegen, Staf, Cheng, Shaunee, Iwamoto, Fumio, Jaenen, Patrick, Maenhoudt, Mireille, Matsuda, Takashi, Postnikov, Sergei, Vandenberghe, Geert
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p692409-692409-11, 11p
Autor:
Dusa, Mircea, Quaedackers, John, Larsen, Olaf F. A., Meessen, Jeroen, van der Heijden, Eddy, Dicker, Gerald, Wismans, Onno, de Haas, Paul, van Ingen Schenau, Koen, Finders, Jo, Vleeming, Bert, Storms, Geert, Jaenen, Patrick, Cheng, Shaunee, Maenhoudt, Mireille
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2007 Part 2, Issue 1, p65200G-65200G-10, 10p