Zobrazeno 1 - 10
of 327
pro vyhledávání: '"JANES, D"'
Autor:
Sprague, A. L., Boynton, W. V., Kerry, K. E., Janes, D. M., Hunten, D. M., Kim, K. J., Reedy, R. C., Metzger, A. E.
Publikováno v:
Science, 2004 Nov . 306(5700), 1364-1367.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/3839598
Autor:
Boynton, W. V., Feldman, W. C., Squyres, S. W., Prettyman, T. H., Brückner, J., Evans, L. G., Reedy, R. C., Starr, R., Arnold, J. R., Drake, D. M., Englert, P. A. J., Metzger, A. E., Mitrofanov, Igor, Trombka, J. I., d'Uston, C., Wänke, H., Gasnault, O., Hamara, D. K., Janes, D. M., Marcialis, R. L., Maurice, S., Mikheeva, I., Taylor, G. J., Tokar, R., Shinohara, C.
Publikováno v:
Science, 2002 Jul 01. 297(5578), 81-85.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/3077222
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Human Immunology September 2023 84 Supplement:87-87
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Back, D., Drummond, K. P., Sinanis, M. D., Weibel, J. A., Garimella, S V, Peroulis, D., Janes, D. B.
Publikováno v:
CTRC Research Publications
High-heat-flux removal is critical for the nextgeneration electronic devices to reliably operate within their temperature limits. A large portion of the thermal resistance in a traditional chip package is caused by thermal resistances at interfaces b
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______540::60c6ba85d249179e7ef4425d9332b7d4
https://docs.lib.purdue.edu/coolingpubs/346
https://docs.lib.purdue.edu/coolingpubs/346
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Drummond, K. P., Back, D., Sinanis, M. D., Janes, D. B., Peroulis, D., Weibel, J. A., Garimella, S V.
Publikováno v:
CTRC Research Publications
High-heat-flux removal is necessary for next-generation microelectronic systems to operate more reliably and efficiently. Extremely high heat removal rates are achieved in this work using a hierarchical manifold microchannel heat sink array. The micr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______540::fd5f2d3e6e6e78e5ca042d27e699ae34
http://docs.lib.purdue.edu/cgi/viewcontent.cgi?article=1318&context=coolingpubs
http://docs.lib.purdue.edu/cgi/viewcontent.cgi?article=1318&context=coolingpubs