Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"J.S. Shy"'
Autor:
C.H. Diaz, K.L. Young, J.H. Hsu, J.C.H. Lin, C.S. Hou, C.T. Lin, J.J. Liaw, C.C. Wu, C.W. Su, C.H. Wang, J.K. Ting, S.S. Yang, K.Y. Lee, S.Y. Wu, C.C. Tsai, H.J. Tao, S.M. Jang, S.L. Shue, H.C. Hsieh, Y.Y. Wang, C.C. Chen, S.C. Yang, S. Fu, S.Z. Chang, T.C. Lo, J.Y. Wu, J.S. Shy, C.W. Liu, S.H. Chen, B.L. Lin, B.K. Liew, T. Yen, C.H. Yu, Y.C. Chao, M.S. Liang, C. Wang, J.Y.C. Sun
Publikováno v:
1999 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.99CH36325).
This paper describes a leading-edge 0.18 /spl mu/m CMOS logic foundry technology. Very aggressive design rules and borderless contacts render a 4.4 /spl mu/m/sup 2/ embedded (synchronous cache) 6T SRAM cell demonstrated in a 1 Mb vehicle with very hi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::80e9c97495fbf9cbd77607fee58c0dbe
https://doi.org/10.1109/vlsit.1999.799315
https://doi.org/10.1109/vlsit.1999.799315
Autor:
C.H. Ho, C.H. Chen, R.Y. Chang, C.H. Yu, L. Chen, S.M. Jang, J.K. Ting, H.J. Tao, S.L. Sue, R.Y. Shiue, Y.S. Ho, J.W. Weng, C.S. Hou, B.K. Liew, Candace Su-Jung Tsai, S.C. Sun, J.S. Shy, K.B. Cheng, C.C. Tu, Y.Y. Wang, T.Y. Chu, S.C. Yang, P.S. Wang, C.C. Tsai, M.H. Chang, T.N. Yen, Y.H. Chen, H.C. Hsieh, J.H. Hsu, Y.C. Huang, J.Y. Wu, K.H. Pan, J.Y.C. Sun, C.W. Liu
Publikováno v:
1998 Symposium on VLSI Technology Digest of Technical Papers (Cat. No.98CH36216).
Summary form only given. A multiple-Vt high performance, high density and highly manufacturable 0.25 /spl mu/m CMOS technology with a shallow trench isolation process has been successfully developed. Five metal layers with oxide CMP planarization, et
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5d16559f768fd62da530f6d4cafa6770
https://doi.org/10.1109/vlsit.1998.689236
https://doi.org/10.1109/vlsit.1998.689236
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.