Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"J.P. Walko"'
Autor:
J.P. Walko, Zhiyun Luo
Publikováno v:
2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual..
For the first time the RF performance and flicker noise degradation and relaxation as a function of time of RF CMOS devices after negative bias temperature instability (NBTI) stress was reported. By comparing the dc, RF and flicker noise performance,
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::90cd962dd28940ebb8ce172843bef6a3
https://doi.org/10.1109/relphy.2005.1493218
https://doi.org/10.1109/relphy.2005.1493218
Autor:
J.P. Walko, B. Abadeer
Publikováno v:
2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings.
The increasing high frequency capabilities of CMOS have resulted in increased RF and analog design in CMOS. Design of RF and analog circuits depends critically on device S-parameter characteristics, magnitude of real and imaginary components and thei
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::47a2a1838286849c645844b5997f9621
https://doi.org/10.1109/relphy.2004.1315364
https://doi.org/10.1109/relphy.2004.1315364
Autor:
Philip L. Flaitz, J.A. Griesemer, B. Kim, J.A. Kash, J.P. Walko, Dennis L. Rogers, Jeremy D. Schaub, Mark B. Ritter, Min Yang, F. Rodier, K.K. Chan, Diane C. Boyd, K.L. Holloway, B. Zhang, J.S. McMurray, M.J. Breitwisch, D. Pendleton, M. Leong
Publikováno v:
2003 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.03CH37407).
In this paper,we demonstrate the integration of optimized LTDs with 0.13/spl mu/m CMOS technology. Excellent characteristics were achieved for both the photodiodes and the CMOS transistors. 10Gb/s operation was demonstrated at a supply voltage of onl
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ffc48ef29af3b54ddcea7d4682c6a335
https://doi.org/10.1109/vlsit.2003.1221076
https://doi.org/10.1109/vlsit.2003.1221076
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.