Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"J.P. Paczkowski"'
Autor:
G.P. Vella-Coleiro, P.R. Smith, S.N.G. Chu, P.S. Davisson, C.M.L. Yee, J.P. Paczkowski, Jichai Jeong
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters. 11:285-287
DC and microwave characteristics of GaAs metal-semiconductor field-effect transistors (MESFETs) on InP grown using the chloride close-proximity reactor (CPR) system are reported. The FETs have an extrinsic maximum transconductance of 210 mS/mm for a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::aeecc7142b0b415df69026d5d8d38e7a
https://doi.org/10.1109/55.56476
https://doi.org/10.1109/55.56476
Autor:
R. Hartop, A.A. Oliner, C.L. Upadhyayula, H.M. Macksey, U. Barabas, R. E. Smith, M. Koyama, U. Langmann, J.R. Sebring, S.T. Jolly, K. Mause, J.R. East, George I. Haddad, D.A. Bathker, M.V. Schneider, W.R. Wisseman, U. Wellens, J. F. Wilhelm, Hua Quen Tserng, J.P. Paczkowski, I. Ohtomo, W.W. Snell, S. Shindo, B.G. Bosch, V. Sokolov, H. Nguyen-Ba, T.F. McMaster, R.M. Cox
Publikováno v:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. 24:997-1001
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fdb8abae8dd3074f279ccde2b2d1a73a
https://doi.org/10.1109/tmtt.1976.1129016
https://doi.org/10.1109/tmtt.1976.1129016
Publikováno v:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. 24:920-926
A new approach for designing transferred electron logic devices (TELD's) is presented and experimental results described. Electrolytic thinning of GaAs wafers has been used to maintain uniform nd product across the wafers and minimize variations in t
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f1ef1284f93fdf6688bbcee1a6bdd3b8
https://doi.org/10.1109/tmtt.1976.1129000
https://doi.org/10.1109/tmtt.1976.1129000
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.