Zobrazeno 1 - 10
of 32
pro vyhledávání: '"J.M. Bosc"'
Publikováno v:
Journal Français d'Ophtalmologie. 41:158-163
Resume Cette etude avait pour but de cartographier precisement la consultation ophtalmologique actuelle en France par un recueil systematise de donnees au cours d’une journee de consultation. Neuf centres ophtalmologiques ont participe a l’enquet
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0479d9c3829795820c2b95e9f23ed648
https://doi.org/10.1016/j.jfo.2017.09.004
https://doi.org/10.1016/j.jfo.2017.09.004
Autor:
J.M. Bosc
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 41:1671-1676
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e5e13c031d2daf0ddd6629979e13c8fd
https://doi.org/10.1016/s0026-2714(01)00180-9
https://doi.org/10.1016/s0026-2714(01)00180-9
Autor:
J.P. Odile, J.M. Bosc
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 37:1791-1794
In the present work, we show the specificity of reliability activities on devices like micromachined silicon gas sensors. As example, we present the approach taken by Motorola to adapt standard reliability tests to these emerging devices. Thermal, me
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::572e6448c49b2c6e339d87d5049c0a2c
https://doi.org/10.1016/s0026-2714(97)00161-3
https://doi.org/10.1016/s0026-2714(97)00161-3
Publikováno v:
Proceedings of the Third European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems.
In the present work we investigate elementary transistors behaviour of an Integrated Circuit using junction isolation bipolar technology. Polarization conditions and dose rate effects on the main elementary transistor types are analysed. Furthermore,
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0c9abbc43d094c7ad7c4906ecddef2c7
https://doi.org/10.1109/radecs.1995.509781
https://doi.org/10.1109/radecs.1995.509781
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
The repetitive energy discharge test (power cycling) is an accelerated stress test (AST) that can be used to characterize the long-term behavior of power transistors taking into account stress on customer final application. This paper describes the a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d93dcbc98a556e4a1685756c5de7fb4b
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2000p0255
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2000p0255
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bernadette Kantelip, J.L. Dupond, D.A. Vuitton, B. de Wazières, E. Seilles, J.M. Rame, J. Royer, J.M. Bosc
Publikováno v:
La Revue de Médecine Interne. 12:S195
We report for the first time the expression of the poly Ig Receptor at the conjonctival epithelial cell surface in normal subjects and in patients with Sjogren disease. Expression of the poly IgR was shown to disappear on conjonctival areas with meta
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::49fa9cb31c410b7f409901adabb61bee
https://doi.org/10.1016/s0248-8663(05)83057-7
https://doi.org/10.1016/s0248-8663(05)83057-7
Publikováno v:
Atención Primaria, Vol 47, Iss 1, Pp 3-6 (2015)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/46568d21d9464b3ba6d6c819db4af006
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.