Zobrazeno 1 - 10
of 48
pro vyhledávání: '"J.K. McDaniel"'
Publikováno v:
2000 5th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.00TH8479).
We report a direct correlation between gate oxide damage measured on antenna testers and yield loss as well as reliability degradation on production chips. The relationship between the magnitude of the yield loss and the reliability failure is explor
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Arrington-Thomas, Alicia L. (AUTHOR), Brewer, John Stephen (AUTHOR) jbrewer@olemiss.edu
Publikováno v:
Ecological Restoration. Jun-Sep2023, Vol. 41 Issue 2/3, p109-118. 10p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ramírez, Mirian Becerril1 (AUTHOR), Urzúa, Lucía Soto1 (AUTHOR), Martínez, María de los Ángeles Martínez2 (AUTHOR), Morales, Luis Javier Martínez1 (AUTHOR) luis.martinez@correo.buap.mx
Publikováno v:
International Journal of Molecular Sciences. Feb2023, Vol. 24 Issue 4, p4023. 14p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.