Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"J.J. Lajza"'
Publikováno v:
IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology. 13:623-628
Stress-induced shifts in the gain of lateral pnp transistors with different dielectric compositions over the base region are discussed. Two separate degradation mechanisms are analyzed. The first and predominant mechanism is the collector fringe-fiel
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::aabc5073f0e34b0e398f878be9561268
https://doi.org/10.1109/33.62518
https://doi.org/10.1109/33.62518
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.