Zobrazeno 1 - 10
of 230
pro vyhledávání: '"J.G. Shanthikumar"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Automation Science and Engineering. 4:513-522
This paper surveys applications of queueing theory for semiconductor manufacturing systems (SMSs). Due to sophisticated tool specifications and process flows in semiconductor manufacturing, queueing models can be very complicated. Research efforts ha
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9feed1b5407b750667f69cc392ab6922
https://doi.org/10.1109/tase.2007.906348
https://doi.org/10.1109/tase.2007.906348
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 12:44-52
The fabless-foundry partnership for integrated circuit (IC) manufacturing business is expected to grow from 12% in 1995 to approximately 17% (i.e., $45B) of the total IC market in 2000. The growth of this market will be even more significant for subq
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::002cb5baebaeef9a43b300f9c2ba9c85
https://doi.org/10.1109/66.744521
https://doi.org/10.1109/66.744521
Publikováno v:
Mathematical Methods of Operations Research. 45:455-481
We study the problem of using information about the type of machine failures to control production. When each station in a two stage flowline has a single machine, the processing time distributions are Erlang, and the time to fail as well repair a ma
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5cd81d8ddb0c5bbc25c6baa8de9828d7
https://doi.org/10.1007/bf01194790
https://doi.org/10.1007/bf01194790
Autor:
J.G. Shanthikumar, Sridhar Seshadri
Publikováno v:
Operations Research. 45:315-321
The problem of maximizing the production of good sets of semiconductor chips under random yield is reexamined in this paper. (A set of semiconductor chips is called a semiconductor kit.) This problem has been considered by Avram and Wein (Avram, F.,
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bf992d68478b9b17929405c351de42c5
https://doi.org/10.1287/opre.45.2.315
https://doi.org/10.1287/opre.45.2.315
Autor:
J.G. Shanthikumar, S.P. Cunningham
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 9:273-277
A negative correlation between die yield and cycle time is frequently hypothesized for semiconductor wafer fabrication. Methods that aggregate die yield and cycle time statistics over time are shown to exaggerate correlation coefficients. A lot-by-lo
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b8801ad86e05f75d57b60913f84f73f8
https://doi.org/10.1109/66.492822
https://doi.org/10.1109/66.492822
Publikováno v:
IEEE Transactions on Automatic Control. 36:1347-1355
A multidimensional stochastic process is considered which is a function of a parametric process. The parametric process may be multidimensional as well. Two such processes are compared that differ only in their parametric processes. Known stochastic
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::20c7fa7e947f8a27b319ea6914f194b7
https://doi.org/10.1109/9.106151
https://doi.org/10.1109/9.106151