Zobrazeno 1 - 10
of 26
pro vyhledávání: '"J.F Woitok"'
Publikováno v:
Applied Surface Science. 253:1323-1329
Rapid thermal oxidation of high-Ge content (Ge-rich) Si 1− x Ge x ( x = 0.85) layers in dry O 2 ambient has been investigated. High-resolution X-ray diffraction (HRXRD) and strain-sensitive two-dimensional reciprocal space mapping X-ray diffractome
Autor:
J.F. Woitok
Publikováno v:
Thin Solid Films. 450:138-142
High-resolution X-ray diffraction, X-ray reflectivity and X-ray diffuse scattering have been combined to characterize Si–Ge heterostructures. The discussion is focused on the complementary information content of the different X-ray scattering techn
Publikováno v:
Materials Science and Engineering: B. 89:216-220
Changes in lattice parameters of SiGe layers were studied when the epilayers were highly doped with boron. SiGe base layers of heterojunction bipolar transistor (HBT) structures, grown by means of chemical vapor deposition, were used for the evaluati
Complemenatary X-ray diffraction and X-ray reflectivity studies on SiGe and SiGe(C) heterostructures
Autor:
J.F. Woitok
Publikováno v:
2002 Conference on Optoelectronic and Microelectronic Materials and Devices. COMMAD 2002. Proceedings (Cat. No.02EX601).
High-resolution X-ray diffraction (XRD) and X-ray reflectivity (XRR) measurements were performed and evaluated to study the structural properties of various SiGe/Si and SiGe(C)/Si heterostructures, respectively. The main purpose of the present study
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.