Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"J.D. Wicker"'
Autor:
Jennifer Dworak, B. Stewart, M.R. Mercer, Li-C. Wang, Michael R. Grimaila, Kenneth M. Butler, J.D. Wicker, Sooryong Lee
Publikováno v:
IEEE Design & Test of Computers. 18:31-41
After an integrated circuit (IC) design is complete, but before first silicon arrives from the manufacturing facility, the design team prepares a set of test patterns to isolate defective parts. Applying this test pattern set to every manufactured pa
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f6314778cd5f7d6c45c7fc2e0519e524
https://doi.org/10.1109/54.902820
https://doi.org/10.1109/54.902820
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.