Zobrazeno 1 - 10
of 30
pro vyhledávání: '"J.C.H. Lin"'
Publikováno v:
Asian Test Symposium
A dynamic analog test methodology using digital tester is proposed. A simple triangular waveform is built on the device interface board for the stimulus generation. The response waveform is quantized by the dual comparators in a digital pin electroni
Autor:
A. Stefanov, J.C.H. Lin
Publikováno v:
EUROCON 2005 - The International Conference on "Computer as a Tool".
In this paper, we approach the partner choice problem in coded cooperative OFDM systems. We first define the user cooperation gain, G f, along with the related cooperation decision parameter, Thetaf, and demonstrate that cooperation is beneficial to
Autor:
G.J. Chern, H.C. Lin, T.Y. Lin, D.D. Tang, C.L. Chang, C.T. Lin, H.J. Lin, S.H. Wang, J.C. Guo, M.C. King, C.H. Chen, M.Y. Wei, C.F. Chen, C.F. Huang, W.Y. Lien, C.S. Chang, J.C.H. Lin, Y.C. Tsai, M.R. Tsai, C.M. Huang, Y.J. Wang, P.M. Tseng, H.M. Hsu, C.C. Wu, W.M. Chen, C.F. Chang, C.C. Ku, S.M. Chen, C.W. Chen, S. Chen, C.C. Chang, J.Y.C. Sun, J.F. Kuan, C.P. Chao
Publikováno v:
IEEE International Electron Devices Meeting 2003.
A versatile mixed-signal and RF (MS/RF) technology based on a foundry 90 nm CMOS process was demonstrated with excellent MOS transistor f/sub T/ at 160-185 GHz. Passive elements of various process schemes were fabricated for cost/performance evaluati
Autor:
S.H. Wang, C.F. Huang, C.K. Hsu, S.C. Wong, J.M. Chiang, S.M. Chen, J.C.H. Lin, Y.L. Chu, S.H. Chen, C.W. Chen, D. Tang, A. Chang, H.M. Hsu, C.H. Chen, C.Y. Lin, J.L. Tsay, R.S. Liou, C.L. Chang, C.Y. Lee, T.H. Yeh, J.Y.C. Sun, R.Y. Chang, C.C. Wu
Publikováno v:
Proceedings of the Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting.
We present an overview of the state-of-the-art RF/Analog foundry technology as well as future trends and roadmap. This set of RF/analog technology is built on top of cutting-edge logic technology platforms and it enables cost-effective and fast-time-
Autor:
C.H. Diaz, K.L. Young, J.H. Hsu, J.C.H. Lin, C.S. Hou, C.T. Lin, J.J. Liaw, C.C. Wu, C.W. Su, C.H. Wang, J.K. Ting, S.S. Yang, K.Y. Lee, S.Y. Wu, C.C. Tsai, H.J. Tao, S.M. Jang, S.L. Shue, H.C. Hsieh, Y.Y. Wang, C.C. Chen, S.C. Yang, S. Fu, S.Z. Chang, T.C. Lo, J.Y. Wu, J.S. Shy, C.W. Liu, S.H. Chen, B.L. Lin, B.K. Liew, T. Yen, C.H. Yu, Y.C. Chao, M.S. Liang, C. Wang, J.Y.C. Sun
Publikováno v:
1999 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.99CH36325).
This paper describes a leading-edge 0.18 /spl mu/m CMOS logic foundry technology. Very aggressive design rules and borderless contacts render a 4.4 /spl mu/m/sup 2/ embedded (synchronous cache) 6T SRAM cell demonstrated in a 1 Mb vehicle with very hi
Publikováno v:
ICMTS 2001. Proceedings of the 2001 International Conference on Microelectronic Test Structures (Cat. No.01CH37153).
This paper studies the mis-match characteristics of 1.8 V and 3.3 V multiple threshold voltage devices, including nominal V/sub t/, medium V/sub t/ and native devices in 0.18 /spl mu/m mixed signal CMOS technology for precision analog design. Three t
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.