Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"J.-G. Loquet"'
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science. 50:2322-2327
For space applications, can cost-effective and reliable heavy ion single-event effect (SEE) testing still be carried out on commercially available, plastic packaged, high-density memories? Their complexity, architecture, and packaging assemblies as w
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science. 47:2656-2661
This paper presents a new simulation method useful to describe heavy ion induced leakage current semi-permanent failure modes in n-MOSFETs, allowing thus to explain experimental results, and proposes to use it to forecast the sensitivity of future te
Publikováno v:
RADECS 2001. 2001 6th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (Cat. No.01TH8605).
Many studies were performed to evaluate charge coupled devices (CCD) under high-energy radiation. As total dose effects concern mainly the oxide charge generation and interface traps at oxide/semiconductor interface, proton and neutron irradiation in
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.