Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"J.-Cl. Dupuy"'
Publikováno v:
Applied Surface Science. 253:2662-2670
Surface roughening of boron δ -doped Si samples under low energy (0.5 keV/ O 2 + , 44 ° and 54 ° , and 1.0 keV/ O 2 + , 48 ° ) O 2 + bombardment at oblique incidence with and without oxygen flooding was studied with atomic force microscopy (AFM)
Publikováno v:
International journal of nuclear medicine and biology. 7(3)
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.