Zobrazeno 1 - 10
of 662
pro vyhledávání: '"J. Willemen"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gwal, Srishti1 (AUTHOR) srishtigwal01@gmail.com, Sena, Dipaka Ranjan2 (AUTHOR) d.sena@cgiar.org, Srivastava, Prashant K.1 (AUTHOR), Srivastava, Sanjeev K.3 (AUTHOR)
Publikováno v:
Remote Sensing. Sep2024, Vol. 16 Issue 18, p3409. 20p.
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 47:1036-1043
In this work, the capability of circuit simulation to predict CDM robustness of integrated circuits and to determine weak circuit elements is studied. The applicability is demonstrated for an ESD evaluation circuit designed to enable the analysis and
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::dcd74261cc2130b1387dcb57f88f6a26
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2006.11.006
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2006.11.006
Autor:
N. Qu, Lucia Zullino, Antonio Andreini, V. Dubec, Erich Gornik, Dionyz Pogany, M. Blaho, J. Willemen, Wolfgang Wilkening, Sergey Bychikhin
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 43:1557-1561
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0bd483e26fe8e54b629e323f34a9fb24
https://doi.org/10.1016/s0026-2714(03)00274-9
https://doi.org/10.1016/s0026-2714(03)00274-9
Autor:
Heinrich Wolf, Wolfgang Fichtner, Lucia Zullino, M. Etherton, Antonio Andreini, S. Mettler, Mariano Dissegna, Roberto Stella, J. Willemen, Horst Gieser, N. Qu, Wolfgang Wilkening
ESD failure mechanisms, specific for charged device model (CDM) stress, are discussed for an input protection structure in a smart power technology showing unexpected dependency of CDM robustness on design variations. This paper demonstrates that fac
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::df40132e10a9de4742f97a76e6706094
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/207470
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/207470
