Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"J. Vanheliemont"'
Autor:
Koenraad G. F. Janssens, Herman Maes, J. C. Bean, O. Van der Biest, Robert Hull, J. Vanheliemont
Publikováno v:
Materials Science and Technology. 11:66-71
Understanding and controlling localised strain in semiconductor devices is one of the critical challenges confronting the designer of new technologies. Due to continuous scaling down in very large and ultralarge scale integration there is a growing r
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::23e0d02ce63f473f270d1011b07a8c92
https://doi.org/10.1179/mst.1995.11.1.66
https://doi.org/10.1179/mst.1995.11.1.66
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.