Zobrazeno 1 - 10
of 36
pro vyhledávání: '"J. Spitzmüller"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Applied Physics A: Materials Science & Processing. 66:S1025-S1029
Publikováno v:
Applied Physics A: Materials Science & Processing. 66:S1021-S1024
formation by chemical vapor deposition, on Si(111)-(7×7). Annealing after predominantly dissociative adsorption at room temperature, where triethoxysiloxane and ethyl groups are the main adsorbate species, leads to further decomposition with various
Publikováno v:
Surface Science. 400:356-366
We report results of a scanning tunneling microscopy and X-ray photoelectron spectroscopy study on the interaction of tetraethoxysilane (TEOS), a precursor for chemical vapor deposition of silicon dioxide, with Si(111)-(7×7) at room temperature. Und
Publikováno v:
Surface Science. :1001-1005
The Si(100)-(2 × 1) surface is studied after interaction with SiH 4 under UHV-CVD conditions between 550 and 690 K with high-resolution scanning tunneling microscopy. In this temperature region, new metastable cross-shaped structural tetramer units
Publikováno v:
Physical Review B. 55:4659-4664
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films. 14:1499-1504
We have studied the interaction of SiH4 with Si(100)2×1 and with Si(111)7×7 utilizing scanning tunneling microscopy. At 690 K Si deposition does not saturate, but the reactive sticking coefficient is considerably larger for Si(100)2×1. On this sur
Publikováno v:
Physical Review B. 63
We have studied the kinetics of nucleation and growth during $\mathrm{S}\mathrm{i}/\mathrm{S}\mathrm{i}(100)\ensuremath{-}(2\ifmmode\times\else\texttimes\fi{}1)$ homoepitaxy by ultrahigh vacuum chemical vapor deposition from ${\mathrm{SiH}}_{4},$ emp