Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"J. Rayhawk"'
Publikováno v:
ITC
A design's increasing density, as well as its number of embedded memories increases its vulnerability to a variety of potential manufacturing defects. Standard March test algorithms used for obtaining good defect coverage must be augmented by new alg
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8ba26bb52b0440d8d52368f6ec2b75f2
https://doi.org/10.1109/test.2005.1584048
https://doi.org/10.1109/test.2005.1584048
Publikováno v:
ITC
Today’s ASIC designs consist of more memory in terms of both area and number of instances. The shrinking of geometries has an even greater effect upon memories due to their tight layouts. These two trends are putting much greater demands upon memor
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a6d0d397dc03eacbf39833e2613b6f96
https://doi.org/10.1109/test.2003.1270862
https://doi.org/10.1109/test.2003.1270862
Publikováno v:
VLSI Design
CRESTA is a built-in self-repair analyzer (BISRA) used for repair of bit-oriented memories, which can repair all repairable bit-oriented memories with available spare resource. This paper enhances CRESTA to support embedded word-oriented memories. Wi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7126db737be4397b9172e7b39683841b
https://doi.org/10.1109/icvd.2004.1261044
https://doi.org/10.1109/icvd.2004.1261044
Publikováno v:
VTS
A memory BIST enhancement, ESP short for exercising system paths, is described that allows the efficiency and functional capabilities of standard approaches while addressing two important problems. Conventional Memory BIST techniques require MUXes at
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::52df49676f4450c4ceb795d84e218764
https://doi.org/10.1109/vtest.2004.1299250
https://doi.org/10.1109/vtest.2004.1299250
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.