Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"J. Neil Greeley"'
Autor:
Bonnie J. Ludwig, Bradford G. Orr, Kenneth T. Nicholson, Kevin S. Schneider, Mark M. Banaszak Holl, J. Neil Greeley, Thomas M. Owens
Publikováno v:
Langmuir. 18:6233-6241
X-ray photoemission spectroscopy (XPS), low-energy electron diffraction (LEED), reflection−absorption infrared spectroscopy (RAIRS), and scanning tunneling microscopy (STM) have been used to characterize the discontinuous oxide films formed followi
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.