Zobrazeno 1 - 10
of 109
pro vyhledávání: '"J. M. Dutertre"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
J3eA. 21:1004
Le monde de la microélectronique a fait place à l’internet des objets (IoT). Ces objets étant de plus en plus connectés et nomades, ils ont d’abord été conçus avec des fortes contraintes de consommation. Cependant, de récentes attaques on
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c4bf7d263c30c540c8fdd7fcf94f268d
https://doi.org/10.1051/j3ea/20221004
https://doi.org/10.1051/j3ea/20221004
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
A. Sarafianos, Edith Kussener, J-M. Dutertre, Mathieu Lisart, Nicolas Borrel, W. Rahajandraibe, Clement Champeix
Publikováno v:
Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), 2015 IEEE International Symposium on
Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), 2015 IEEE International Symposium on, Apr 2015, Monterey, United States. ⟨10.1109/DFT.2015.7315141⟩
2015 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS)
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS 2015)
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS 2015), Oct 2015, Amherst, MA, United States. ⟨10.1109/DFT.2015.7315141⟩
DFTS
Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), 2015 IEEE International Symposium on, Apr 2015, Monterey, United States. ⟨10.1109/DFT.2015.7315141⟩
2015 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS)
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS 2015)
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS 2015), Oct 2015, Amherst, MA, United States. ⟨10.1109/DFT.2015.7315141⟩
DFTS
International audience; This study is driven by the need to understand the influence of a Deep-Nwell implant on the sensitivity of integrated circuits to laser-induced fault injections. CMOS technologies can be either dual-well or triple-well. Triple
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::d83a50e68b0137be8a2c09894e10e85a
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01230166
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01230166
Autor:
Edith Kussener, Mathieu Lisart, Alexandre Sarafianos, Clement Champeix, Nicolas Borrel, J-M. Dutertre, Wenceslas Rahajandraibe
Publikováno v:
IRPS
Reliability Physics Symposium (IRPS), 2015 IEEE International
Reliability Physics Symposium (IRPS), 2015 IEEE International, Apr 2015, Monterey, United States. ⟨10.1109/IRPS.2015.7112799⟩
Reliability Physics Symposium (IRPS), 2015 IEEE International
Reliability Physics Symposium (IRPS), 2015 IEEE International, Apr 2015, Monterey, United States. ⟨10.1109/IRPS.2015.7112799⟩
International audience; — This study is driven by the need to optimize failure analysis methodologies based on laser/silicon interactions with an integrated circuit using a triple-well process. It is therefore mandatory to understand the behavior o
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b18e173e812faee40e794c663784098b
https://doi.org/10.1109/irps.2015.7112799
https://doi.org/10.1109/irps.2015.7112799
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.