Zobrazeno 1 - 10
of 257
pro vyhledávání: '"J. K. Sheu"'
Autor:
Kai-Lun Chi, Jin-Wei Shi, C. H. Jang, Pyry Kivisaari, Jani Oksanen, Jukka Tulkki, M. L. Lee, J. K. Sheu
Publikováno v:
IEEE Photonics Journal, Vol 4, Iss 5, Pp 1870-1880 (2012)
Distinct temperature-dependent dynamic behaviors of GaN-based blue light-emitting diodes (LEDs) are observed by use of the very-fast electrical-optical pump-probe technique. Our static and impulse response measurement results indicate that the behavi
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/c01fa1bf167e44028b0f794f20fd229d
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Extended Abstracts of the 2018 International Conference on Solid State Devices and Materials.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3c8819ecb0687030ea8530ab007d1228
https://doi.org/10.7567/ssdm.2018.ps-6-04
https://doi.org/10.7567/ssdm.2018.ps-6-04