Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"J. Honert"'
Autor:
P. Neumann, I. Jakobi, F. Dolde, C. Burk, R. Reuter, G. Waldherr, J. Honert, T. Wolf, A. Brunner, J. H. Shim, D. Suter, H. Sumiya, J. Isoya, J. Wrachtrup
Measuring local temperature with a spatial resolution on the order of a few nanometers has a wide range of applications from semiconductor industry over material to life sciences. When combined with precision temperature measurement it promises to gi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::fedc03359dcc945fe9dac901b42e0e4e
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.