Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"J. Hedoire"'
Publikováno v:
Microwave and Optical Technology Letters. 18:6-14
Publikováno v:
Simulation of Semiconductor Devices and Processes ISBN: 9783709173633
The study of breakdown phenomena is very important for power devices. Indeed, it constitutes a great limitation for the performance. This paper proposes to study this phenomenon by two means: a two dimensional energy model and a quasi two dimensional
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::33918a2c96aaec38ceae527a71277770
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-6619-2_88
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-6619-2_88
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.