Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"J. Hatsch"'
Autor:
Hans Reisinger, Christian Schlunder, Karl Hofmann, J. Hatsch, Thomas Baumann, Christian Pacha, Georg Georgakos, T. Kodytek, Klaus Von Arnim, K. Ermisch, T. Pompl, Wolfgang Gustin
Publikováno v:
2010 Symposium on VLSI Technology.
A product-level aging monitor replicating a 40nm CMOS ARM1176 critical path is presented. The monitor enables a separation of the dominating negative bias instability (NBTI) stress, including speed recovery, and the switching-activity dependent hot c
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7d7a74fe8642723d66505faaa8e2cbcb
https://doi.org/10.1109/vlsit.2010.5556134
https://doi.org/10.1109/vlsit.2010.5556134
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.