Zobrazeno 1 - 10
of 27
pro vyhledávání: '"J. Gaudiello"'
Autor:
J. Demarest, B. Austin, J. Arjavac, M. Breton, M. Bergendahl, M. Biedrzycki, C. Boye, J. Gaudiello, J. Hager, S. Matham, K. Nguyen, M. Persala, S. Teehan
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
Transmission electron microscopy (TEM) sample can be routinely made at a sub 30nm thickness and specific features in semiconductor device design are on the order of 30nm and smaller. As a result, small changes in pattern match registration can signif
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2d85cdd8f5ff52de371fb7cb78e386a9
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2018p0238
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2018p0238
Autor:
Nicolas Bernier, Nicolas Loubet, R. Coquand, Tenko Yamashita, James Chingwei Li, O. Faynot, J. Gaudiello, Sylvain Barraud, G. Audoit, Shay Reboh, E. Augendre, Jean-Luc Rouvière, Narciso Gambacorti
Publikováno v:
Applied Physics Letters
Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2018, 112 (5), pp.051901. ⟨10.1063/1.5010997⟩
Applied Physics Letters, 2018, 112 (5), pp.051901. ⟨10.1063/1.5010997⟩
Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2018, 112 (5), pp.051901. ⟨10.1063/1.5010997⟩
Applied Physics Letters, 2018, 112 (5), pp.051901. ⟨10.1063/1.5010997⟩
Pre-strained fin-patterned Si/SiGe multilayer structures for sub-7 nm stacked gate-all-around Si-technology transistors that have been grown onto bulk-Si, virtually relaxed SiGe, strained Silicon-On-Insulator, and compressive SiGe-On-Insulator were i
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::6094e1c5657c5b2510154a17dead1a85
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02071864
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02071864
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 25:2018-2019
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1ae487b3c08de3d704f58c900e036aa5
https://doi.org/10.1017/s1431927619010821
https://doi.org/10.1017/s1431927619010821
Autor:
N. Saulnier, Adra Carr, B. Veeraraghavan, Vimal Kamineni, Tenko Yamashita, Zuoguang Liu, Oleg Gluschenkov, J. Gaudiello, Mark Raymond, Shogo Mochizuki, Hiroaki Niimi, Jody A. Fronheiser, Juntao Li, Praneet Adusumilli
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 24:8-9
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fba4de50f45b24a09479d70e9d5de700
https://doi.org/10.1017/s1431927618000533
https://doi.org/10.1017/s1431927618000533
Autor:
Nicolas Loubet, Pierre Morin, Qing Liu, Bruce B. Doris, Kangguo Cheng, J. Gaudiello, Jingfeng Li
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 21:1967-1968
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b7e73ef13aa973239783c91feabc2690
https://doi.org/10.1017/s1431927615010612
https://doi.org/10.1017/s1431927615010612
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
John Yurkon, J. Gaudiello, Ye Chen, Aaron Galonsky, E. Kashy, Wolfgang Bauer, R. A. Pelak, M.R. Maier, M. B. Tsang, D. J. Morrissey
Publikováno v:
Physical review. C, Nuclear physics. 40(1)
The recent reports of neutron emission due to nuclear fusion of deuteriumduring the electrolysis of heavy water with a palladium cathode areinvestigated. The results for an electrode with a deuterium-to-palladium atomratio of 0.6 show that, at the tw
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::1eb9588c0c22a334f05af39fe0ae6b6c
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/9965947
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/9965947
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.