Zobrazeno 1 - 10
of 57
pro vyhledávání: '"J. Chlpik"'
Autor:
Jana Galambošová, V. Rataj, J. Dudak, J. Chlpik, Richard J. Godwin, M. Zitnak, Miroslav Macák, W. C. T. Chamen, Diogenes L. Antille, B. Vitazkova
Publikováno v:
Transactions of the ASABE. 60:657-669
The progressive increase in the size and weight of farm machinery causes concerns due to the increased risk of soil compaction that arises from non-organized vehicle traffic. Controlled traffic farming (CTF) offers an effective means to manage compac
Publikováno v:
Materials Today: Proceedings. 2:70-76
The method of ellipsometry, particularly spectroscopic ellipsometry, is a very sensitive, non-destructive experimental technique of thin film characterisation. The recently proposed method of Surface Plasmon Resonance Ellipsometry (SPRE) combines the
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
The Tenth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems.
Ellipsometry, particularly spectroscopic ellipsometry, is a very sensitive, nondestructive experimental technique of thin film characterisation. The recently proposed method of Total internal reflection ellipsometry (TIRE) combines the advantages of
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Andrej Vincze, Jan Remsa, Miroslav Jelinek, J. Chlpik, Frantisek Uherek, O. Kadar, Jaroslav Bruncko
Publikováno v:
The Eighth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems.
The contribution reports on fabrication and characterization of TiO 2 thin films on Si substrate. The TiO 2 thin films are used for photonic devices in optical communication systems. The most important parameter for the waveguide structures is the re
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.