Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"J. Buzzeo"'
Publikováno v:
IEEE Transactions on Engineering Management. 41:143-151
This paper describes a new procedure for using a machine-learning classification technique coupled with an expert system to increase profitability and improve throughput in a semiconductor manufacturing environment. The authors show how to use this p
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9e29217da01141189569dba8cfa041eb
https://doi.org/10.1109/17.293381
https://doi.org/10.1109/17.293381
Publikováno v:
IEEE/SEMI International Symposium on Semiconductor Manufacturing Science.
The authors describe a procedure for using induction-based classification techniques for identifying relationships between work-in-process (WIP) test structure data and future IC yield at wafer test on a wafer-by-wafer or lot-by-lot basis. The relati
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::947ffb7ac180e58cb697d22bab50b8d7
https://doi.org/10.1109/ismss.1990.66127
https://doi.org/10.1109/ismss.1990.66127
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.