Výsledky vyhledávání

Characterization and Application of the Vapor Phase Decomposition Technique for Trace Metal Analysis on Silicon Oxide Surfaces

Autor: B. L. Schmidt, L. H. Hall, J. A. Sees

Publikováno v: Surface and Interface Analysis. 24:511-516

Vapor phase decomposition-droplet surface etching-graphite furnace atomic absorption spectroscopy (VPD-DSE-GFAAS) is discussed as a technique for the determination of low levels of metals in chemical oxides on silicon surfaces. The VPD-DSE-GFAAS tech

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8a275c7e2bf1d43db9ecfffbe230efd8
https://doi.org/10.1002/(sici)1096-9918(199608)24:8<511::aid-sia167>3.0.co

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání