Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"J.‐S. Jenq"'
Autor:
J.‐S. Jenq, R. A. Breun, James W. Taylor, A. Matthews, Gon-Ho Kim, Matthew Goeckner, J. A. Meyer
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films. 11:2543-2552
In this article, we examine the influence of contaminants on an electron cyclotron resonance discharge. For our discharge, the measured level of contaminant was highest just after startup, decreasing to a stable level after approximately 20 min.This
Autor:
J. A. Meyer, Noah Hershkowitz, J. W. Taylor, J.‐S. Jenq, S. Y. Perez‐Montero, H. L. Maynard, K. H. R. Kirmse, Amy E. Wendt
Publikováno v:
Applied Physics Letters. 64:1926-1928
Wafer temperature, etch rate, and etch uniformity measurements of SiO2 wafers were made to characterize the use of back side helium cooling with an electrostatic wafer holder in an electron cyclotron resonance etching tool. The etch rate was found to
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.