Zobrazeno 1 - 10
of 701
pro vyhledávání: '"J-P Raskin"'
Publikováno v:
IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 10, Pp 620-626 (2022)
This paper focuses on the comparison of various advanced substrates such as trap-rich (TR), porous silicon (PSi), gold-doped (Au-Si) and smart-implants PN-junction (DP) in terms of RF performances. Both small- and large-signal measurements were perfo
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/8bdd0f514f874ccfac535d801d7012c6
Autor:
N. Andre, M. Rack, L. Nyssens, C. Gimeno, D. Oueslati, K. Ben Ali, S. Gilet, C. Craeye, J.-P. Raskin, D. Flandre
Publikováno v:
IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 7, Pp 393-397 (2019)
In this paper, measurements and simulations of miniature monopole antennas for ultra-wideband (UWB) GHz intra- and inter-chips communication and biomedical applications are presented. Folded designs on four substrates are studied: 1) standard bulk; 2
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/f687e44f115045ddbed7637c7b67b4aa
Publikováno v:
2023 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA/VLSI-DAT).
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
L. Nyssens, M. Rack, M. Nabet, C. Schwan, Z. Zhao, S. Lehmann, T. Herrmann, D. Henke, A. Kondrat, C. Soonekindt, F. Koch, T. Kache, D. P. Kini, O. Zimmerhackl, F. Allibert, C. Aulnette, D. Lederer, J.-P. Raskin
Publikováno v:
2022 24th International Microwave and Radar Conference (MIKON).
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters, Vol. 42, no.5, p. 665-668 (2021)
IEEE Electron Device Letters
IEEE Electron Device Letters
This paper proposes an original approach to separately characterize self-heating and substrate effects in Fully-Depleted Silicon-on-Insulator (FD-SOI) devices. As both dynamic self-heating and drain to source coupling through the back-gate and substr
Autor:
O. de Leuze, Y. Danlee, X. Tang, J. Mahy, T. Walewyns, J.-P. Raskin, S. Hermans, L. A. Francis
Publikováno v:
2022 IEEE International Symposium on Olfaction and Electronic Nose (ISOEN).
Autor:
S. Wane, F. Ferrero, J. Sombrin, L. Tombakdjian, D. Bajon, P. Ratajczak, F. Molina, M. Rack, L. Nyssens, J.-P. Raskin, D. Lederer, C. Craeye, G. Albertini, V. Huard, P. Poilvert, C.-A. Tavernier, D. Floriot
Publikováno v:
2022 IEEE Texas Symposium on Wireless and Microwave Circuits and Systems (WMCS).