Zobrazeno 1 - 10
of 786
pro vyhledávání: '"J, Walecki"'
Publikováno v:
Advances in Medicine, Vol 2019 (2019)
Development on new fast MRI scanners resulted in rising number of prostate examinations. High-spatial resolution of MRI examinations performed on 3T scanners allows recognition of very fine anatomical structures previously not demarcated on performed
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/1974c0ea92ba404d89ebf92e7f7b7fad
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gisselle Dieguez, Jonathan Karpenkopf, Jack Fulton, Ludmila Gimenez, Wojciech J. Walecki, Julian Guerra, Aaron Labrador
Publikováno v:
The Physics Teacher. 59:556-559
Although ripple tanks have been used in the past to perform wave simulations for electromagnetic and acoustic phenomena, especially before the advent of computers, they are still often used to demonstrate wave propagation in high school and college p
Autor:
Wojtek J. Walecki
Publikováno v:
Optical Manufacturing and Testing XIV.
Autor:
Wojtek J. Walecki
Publikováno v:
Interferometry XXI.
Autor:
Juan Rodriguez, Becky Tang, Marcos H. Martin, Adrin Irias, Amani Adel, Sebastian Zaldivar, Abel A. Carvajal, Camila Gallardo, Wojciech J. Walecki
Publikováno v:
The Physics Teacher. 60:40-42
Autor:
Wojciech J. Walecki
Publikováno v:
Applied Optical Metrology IV.
We present analysis and experimental evaluation of a novel system based on fiber optic frequency space low coherence interferometer (FSLCI), employing selectable filter frequency space Moire technology d in [1]. Our system is using novel polarization
Autor:
Wojtek J. Walecki
Publikováno v:
Optical and Quantum Sensing and Precision Metrology.
I describe a novel apparatus for measurement of thickness and topography of slabs of materials employing probes with filters using polarization maintaining fibers.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Photonic Instrumentation Engineering VI.
The photo-elastic stress metrology is well known measurement technique widely used in mechanical engineering applications since at least 1940 [1]. Its use in semiconductor manufacturing has been limited since the direct measurements of the stress in