Zobrazeno 1 - 10
of 138
pro vyhledávání: '"J, Tielsch"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Ophthalmology. 111:1778-1781
Autor:
G.E. Thompson, Tran Minh Duc, B. J. Tielsch, Morgan R. Alexander, Xiaorong Zhou, Eoghan Mcalpine
Publikováno v:
Surface and Interface Analysis. 30:16-20
The effectiveness of carboxylic acid functionalized plasma polymers (PPs) as adhesion promotion pretreatments for aluminium is investigated. Plasma polymers of acrylic acid have been deposited onto AA6016 aluminium alloy and subsequently bonded with
Autor:
Rommel Noufi, Falah S. Hasoon, David W. Niles, Julia E. Fulghum, Brian J. Tielsch, Kannan Ramanathan
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films. 15:3044-3049
Thermal processing of Cu(In1−xGax)Se2 thin-films grown as part of photovoltaic devices on soda-lime glass leads to the incorporation of Na impurity atoms in the Cu(In1−xGax)Se2. Na contamination increases the photovoltaic efficiency of Cu(In1−x
Publikováno v:
Surface Science Spectra. 4:316-344
XPS spectra have been obtained from six metals in the first row of transition elements using a Kratos AXIS HS x-ray photoelectron spectrometer. The six metals analyzed include Cu, Ni, Zn, V, Ge, and Fe. Each sample was Ar+ ion etched before XPS analy
Publikováno v:
Surface and Interface Analysis. 24:459-468
Factors which affect photoelectron peak positions on heterogeneous samples are evaluated using patterned indium tin oxide (ITO) on glass. Local sample environment, sample mounting and spatial variation in x-ray flux are all shown to contribute to dif