Zobrazeno 1 - 10
of 101
pro vyhledávání: '"J, Madic"'
Publikováno v:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. 51:2203-2210
This paper presents a novel power-amplifier module (PAM) designed for GSM850-, GSM900 MHz, DCS1800- and PCS1900-MHz handset applications. The module combines an InGaP HBT power-amplifier integrated circuit, two integrated couplers, a dual-band logari
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6838d2dae8b6efddeed5416ebcd2ba60
https://doi.org/10.1109/tmtt.2003.818585
https://doi.org/10.1109/tmtt.2003.818585
Publikováno v:
Letters in applied microbiology. 52(5)
To develop a duplex real-time PCR assay targeting enterohaemorrhagic Escherichia coli (EHEC) type III effector TccP/TccP2-encoding genes which are pivotal to EHEC-mediated actin cytoskeleton reorganization in human intestinal epithelial cells.The spe
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid________::044ae9e704ce0518c0be86e555adbfa8
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/21362002
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/21362002
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Radio Frequency Integrated Circuits (RFIC) Symposium, 2003.
This paper describes an accurate power control technique for handset PA modules (PAMs) with internal closed loop control. Our design approach is the first to include two integrated directional couplers in a handset RF PAM. It significantly improves p
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::0aeb310601a68bb95ff5179d4c63b2c8
https://doi.org/10.1109/rfic.2003.1214047
https://doi.org/10.1109/rfic.2003.1214047
Autor:
J. Madic, Don Monroe, M.M. Brown, Yi Ma, B. E. Weir, N.X. Zhao, A. Ghetti, J. Bude, P.J. Silverman, Gregory Timp, A. Hamad, Frieder H. Baumann, T.W. Sorsch, D. Hwang, Muhammad A. Alam, T.M. Oberdick
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318).
We demonstrate that reliability projections can be improved significantly if oxide thickness uniformity is improved. Our results include a Weibull slope of 1.38 for an extremely uniform 1.6 nm oxide, and also a steeper voltage scaling factor than has
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::737b873899e9e19eb1290e260bd9880a
https://doi.org/10.1109/iedm.1999.824187
https://doi.org/10.1109/iedm.1999.824187
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.