Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"Iwahashi, Yohei"'
Autor:
d’Alessandro, Vincenzo, Magnani, Alessandro, Riccio, Michele, Iwahashi, Yohei, Breglio, Giovanni, Rinaldi, Niccolò, Irace, Andrea
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-November 2013 53(9-11):1713-1718
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2012 52(9-10):2431-2434
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kumazawa, Teruaki, Okamoto, Mitsuo, Iijima, Miwako, Iwahashi, Yohei, Fujikake, Shinji, Araoka, Tuyoshi, Tawara, Tae, Kimura, Hiroshi, Hamada, Kimimori, Harada, Shinsuke, Okumura, Hajime
Publikováno v:
Materials Science Forum; July 2019, Vol. 963 Issue: 1 p469-472, 4p
Autor:
Iwahashi, Yohei, Miyazato, Masaki, Miyajima, Masaaki, Yonezawa, Yoshiyuki, Kato, Tomohisa, Fujiwara, Hirokazu, Hamada, Kimimori, Otsuki, Akihiro, Okumura, Hajime
Publikováno v:
Materials Science Forum; May 2017, Vol. 897 Issue: 1 p218-221, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yaguchi, Hiroyuki, Kitamura, Yoshihiro, Nishida, Kenji, Iwahashi, Yohei, Hijikata, Yasuto, Yoshida, Sadafumi
Publikováno v:
Physica Status Solidi (C); 2005, Vol. 2 Issue 7, p2267-2270, 4p