Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Inohara, M."'
Autor:
Ezawa, H., Togasaki, T., Migita, T., Yamashita, S., Inohara, M., Koshio, Y., Fukuda, M., Miyata, M., Nagamine, K., Iijima, T.
Publikováno v:
Electronic System-Integration Technology Conference (ESTC), 2010 3rd; 2010, p1-6, 6p
Autor:
Watanabe, R., Oishi, A., Sanuki, T., Kimijima, H., Okamoto, K., Fujita, S., Fukui, H., Yoshida, K., Otani, H., Morifuji, E., Kojima, K., Inohara, M., Igrashi, H., Honda, K., Yoshimura, H., Nakayama, T., Miyake, S., Hirai, T., Iwamoto, T., Nakahara, Y.
Publikováno v:
2008 IEEE International Electron Devices Meeting; 2008, p1-4, 4p
Autor:
Chen, F., Chanda, K., Gill, I., AngyaI, M., Demarest, J., Sullivan, T., Kontra, R., Shinosky, M., Li, J., Economikos, L., Hoinkis, M., Lane, S., McHerron, D., Inohara, M., Boettcher, S., Dunn, D., Fukasawa, M., Zhang, B.C., Ida, K., Ema, T.
Publikováno v:
2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings 43rd Annual; 2005, p501-507, 7p
Autor:
Miyajima, H., Watanabe, K., Fujita, K., Ito, S., Tabuchi, K., Shimayama, T., Akiyama, K., Hachiya, T., Higashi, K., Nakamura, N., Kajita, A., Matsunaga, N., Enomoto, Y., Kanamura, R., Inohara, M., Honda, K., Kamijo, H., Nakata, R., Yano, H., Hayasaka, N.
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p329-332, 4p
Autor:
Inohara, M., Tamura, I., Yamaguchi, T., Koike, H., Enomoto, Y., Arakawa, S., Watanabe, T., Ide, E., Kadomura, S., Sunouchi, K.
Publikováno v:
Digest. International Electron Devices Meeting; 2002, p77-80, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hasegawa, S., Kitamura, Y., Takahata, K., Okamoto, H., Hirai, T., Miyashita, K., Ishida, T., Aizawa, H., Aota, S., Azuma, A., Fukushima, T., Harakawa, H., Hasegawa, E., Inohara, M., Inumiya, S., Ishizuka, T., Iwamoto, T., Kariya, N., Kojima, K., Komukai, T.
Publikováno v:
2008 IEEE International Electron Devices Meeting; 2008, p1-3, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.