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pro vyhledávání: '"Inline-Messtechnik"'
Autor:
Naverschnigg, Christopher
Integration of metrology systems directly in the manufacturing process is seen as a key feature for future production lines to enhance product quality, manufacturing efficiency and to provide continuous information about manufactured goods. Fast, con
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::66b9def8933ef7897fe31bc81c4b49da
Autor:
Seyler, Tobias, Fratz, Markus, Beckmann, Tobias, Schiller, Annelie, Engler, Johannes, Bertz, Alexander, Carl, Daniel
Digital-holographische Messsysteme erlauben eine echte 100-Prozent-Qualitätskontrolle - inline in der Fertigungslinie und sogar direkt in der Werkzeugmaschine. Die hochgenauen und sehr schnellen 3D-Sensoren erfassen dabei makroskopische Topografien
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::ecb64e97bdb2a4e61eb26c972feaaf1d
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/259800
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/259800
Präzisionsbauteile müssen oft auf wenige Mikrometer genau produziert werden. Selbst modernste Bearbeitungsmaschinen kommen dabei an ihre Grenzen. Ein neuartiger optischer Sensor vom Fraunhofer-IPM sorgt für die notwendige Bauteilqualität: Der Hol
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::82eccb544d63d5201849eeb9a0705519
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/437129
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/437129
Ein digital-holografisches Messsystem erlaubt erstmals eine echte 100-Prozent-Qualitätskontrolle in einer Werkzeugmaschine. Der Sensor erfasst makroskopische Topografien mit Genauigkeiten bis in den Sub-Mikrometerbereich. Durch die exakte Erfassung
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::af4491384f691bdef48bd78e664f4afb
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/255188
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/255188
Publikováno v:
tm - Technisches Messen. 77:462-466
Zusammenfassung Optische Systeme für die Vermessung dreidimensionaler Oberflächen sind für die Inline-Inspektion oft zu langsam oder zu ungenau. Deshalb hat Fraunhofer IPM Inspektionssysteme entwickelt, die auf digitaler Mehrwellenlängen-Holograf
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::db37f1273728ddda3aa6b5dc8902e170
https://doi.org/10.1524/teme.2010.0049
https://doi.org/10.1524/teme.2010.0049
