Zobrazeno 1 - 10
of 322
pro vyhledávání: '"Improved Luminescence Efficiency"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Information Display. 13:91-95
Indium phosphide (InP) quantum dots (QDs) are considered alternatives to Cd-containing QDs for application in light-emitting devices. The multishell coating with ZnSe/ZnS was shown to improve the photoluminescence quantum yield (QY) of InP QDs more s
Publikováno v:
physica status solidi c. 6:868-871
Observation of the enhanced luminescence efficiency of InAs quantum dots (QDs) grown on atomically controlled GaAs surfaces is reported. With the trisdimethylaminoarsenic (TDMAAs) in-situ surface etching process, formation of atomic steps and terrace
Autor:
Peter Krispin, C.W. Coldren, James S. Harris, William R. Wampler, Klaus Ploog, S.G. Spruytte, Michael C. Larson
Publikováno v:
Journal of Applied Physics. 89:4401-4406
A key to the utilization of nitride-arsenides for long wavelength optoelectronic devices is obtaining low defect materials with long nonradiative lifetimes. Currently, these materials must be annealed to obtain device quality material. The likely def
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
Semiconductor quantum dots (QDs) exhibit unique optical properties like size-tunable emission color, narrow emission peak, and high luminescence efficiency. QDs are therefore investigated towards their application in light-emitting devices (QLEDs), s
Publikováno v:
Applied Physics Letters. 79:1094-1096
Positron-annihilation measurements and nuclear reaction analysis [utilizing the 14N(d,p)15N and 14N(d,He)12C reactions] in conjunction with Rutherford backscattering spectrometry in the channeling geometry were used to study the defects in as-grown G
Publikováno v:
2007 IEEE 19th International Conference on Indium Phosphide & Related Materials.
Surface passivation effect of electron-beam resist (EBR) on InAs quantum dots (QDs) was studied to fabricate nano devices based on QDs open to air. When polymethylmethacrylate (PMMA) was coated on InAs QD surfaces, the luminescence spectra and effici