Zobrazeno 1 - 10
of 225
pro vyhledávání: '"Ikezawa T"'
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yako, K., Uejima, K., Yamamoto, T., Mineji, A., Nagumo, T., Ikezawa, T., Matsuzaka, N., Shishiguchi, S., Hase, T., Hane, M.
Publikováno v:
2008 IEEE International Electron Devices Meeting; 2008, p1-4, 4p
Publikováno v:
2008 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes & Devices; 2008, p113-116, 4p
Publikováno v:
2006 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes & Devices; 2006, p55-58, 4p
Autor:
Narihiro, M., Iwamoto, T., Yamamoto, T., Ikezawa, T., Yako, K., Tanaka, M., Mineji, A., Okuda, Y., Uejima, K., Shishiguchi, S., Hane, M.
Publikováno v:
2006 14th IEEE International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors; 2006, p147-151, 5p
Autor:
Wakabayashi, H., Tatsumi, T., Ikarashi, N., Oshida, M., Kawamoto, H., Ikezawa, N., Ikezawa, T., Yamamoto, T., Hane, M., Mochizuki, Y., Mogami, T.
Publikováno v:
IEEE International Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest; 2005, p145-148, 4p
Autor:
Hane, M., Ikezawa, T.
Publikováno v:
Extended Abstracts of the Fifth International Workshop on Junction Technology; 2005, p59-62, 4p
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p975-978, 4p