Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Iken, T."'
We investigated the thermal resistance of SnSe nanoflakes using scanning thermal microscopy, an extension of atomic force microscopy that allows for nanoscale thermal mapping. The nanoflakes studied ranged in thickness from 5 nm to 40 nm, enabling us
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2410.02009
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.