Zobrazeno 1 - 10
of 282
pro vyhledávání: '"Ic testing"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Michiko Inoue, Tomoki Nakamura, Michihiro Shintani, Riaz-ul-haque Mian, Makoto Eiki, Masuo Kajiyama
Publikováno v:
ITC
Wafer-level performance prediction has been attracting attention to reduce measurement costs without compromising test quality in production tests. Although several efficient methods have been proposed, the site-to-site variation, which is often obse
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::49035e120d16e708ababd0f50443f978
http://arxiv.org/abs/2111.01369
http://arxiv.org/abs/2111.01369
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Keno Sato, Yujie Zhao, Jianglin Wei, Shuhei Yamamoto, Anna Kuwana, Shogo Katayama, Yuto Sasaki, Toshiyuki Okamoto, Takashi Ishida, Takayuki Nakatani, Tri Minh Tran, Kazumi Hatayama, Haruo Kobayashi, Tamotsu Ichikawa
Publikováno v:
IOLTS
In LSI testing, equivalent time sampling techniques are frequently used because the input signals to the device under test and the sampling clock are controllable; when the repetitive input signals are applied to the analog device under test, its out
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Pediatric Surgery. 53:2100-2104
Infants with congenital diaphragmatic hernia (CDH) are at risk for growth failure because of inadequate caloric intake and high catabolic stress. There is limited data on resting energy expenditure (REE) in infants with CDH.To assess REE via indirect
Autor:
Chien-Mo Li
Publikováno v:
2021 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT).