Zobrazeno 1 - 10
of 18
pro vyhledávání: '"Iannacone, G"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Campos, J, Hatzfeld, D, Madariaga, R, Lopez, G, Kausel, E, Zollo, A, Iannacone, G, Fromm, R, Barrientos, S, Lyon-Caen, H
Publikováno v:
In Physics of the Earth and Planetary Interiors 2002 132(1):177-195
Autor:
Builes, J.J., Aguirre, D., Manrique, A., Puerto, Y., Bravo, M.L., Gaviria, A., Gutierrez, A., Muñoz, M., Fonseca, D., Usaquen, W., Castillo, A., Pineda, C., Ugalde, N., Cicarelli, R.M.B., Ibarra, A., Trejos, D.M., Hudy, L.D., De Castro, M., Díaz, L.F., Quiceno, D., Pinzón, A., Gavilan, M., Sánchez, D., Roa, M., Ossa, H., Iannacone, G., Mendoza, L., Ruiz, M., Solis, L., Pareja, L., Guevara, A., Carracedo, A., Gusmão, L.
Publikováno v:
In Forensic Science International: Genetics Supplement Series 2011 3(1):e57-e58
Autor:
Penacino, G., Álvarez, M., Arce, V., Arévalo, J., Arrieta, G., Barretto, R., Basso, Nestor Guillermo, Borja, L., Carbajal, L, Chiarello, A., de Santi, V., Domínguez, V., Espinoza, M., Estrada, M., Fortín, M., Gaviria, A., Gélvez, X., Gentili, A., Giugliani, R., Gómez, M., González, P., Gónzalez, S., Gutiérrez, A., Hau, J., Iannacone, G., Ibarra, A., Iglesias, M., Jaime, J., León, A., Martínez, M., Marti, M., Martins, J., Olivera, Nelda Lila
Los estudios de genética forense en Latinoamérica son efectuados por laboratorios públicos y privados. La Sociedad Latinoamericana de Genética Forense (www.slagf.or g) posee un programa para favorecer la colaboración y la mejora de la calidad de
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3498::a85044f449cd73a4b6bed98668533913
http://accf.org/
http://accf.org/
Publikováno v:
HAL
IEEE Transactions on Nanotechnology
IEEE Transactions on Nanotechnology, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2005, 4, n°3, pp.360-365
IEEE Transactions on Nanotechnology
IEEE Transactions on Nanotechnology, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2005, 4, n°3, pp.360-365
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::22eae3f528ba5db3007645dee4d7e479
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00145235
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00145235
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.