Zobrazeno 1 - 10 of 233 pro vyhledávání: '"INFRARED microscopes"'
1
Akademický článek
Direct measurement of hot-spot temperature in flip-chip solder joints under current stressing using infrared microscopy.
Autor: Hsiao, Hsiang-Yao1, Liang, S. W.1, Ku, Min-Feng1, Chen, Chih1, Yao, Da-Jeng2
Publikováno v: Journal of Applied Physics. Aug2008, Vol. 104 Issue 3, p033708. 6p. 4 Diagrams, 1 Chart, 4 Graphs.
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Optical and Infrared Monitoring of BL Lac in 1999–2001.
Autor: Hagen-Thorn, V. A.1, Larionov, V. M.1 vm1@VL1104.spb.edu, Larionova, E. G.1, Kudryavtseva, N. A.1, Tikhonov, A. V.1, Hagen-Thorn, A. V.1, Arkharov, A. A.2, Di Paola, A.3, d'Alessio, F.3
Publikováno v: Astronomy Letters. Apr2004, Vol. 30 Issue 4, p209-217. 9p.
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Infrared spectroscopy of acetone–water liquid mixtures. I. Factor analysis.
Autor: Max, Jean-joseph1 jjniax@scientech-rd.corn, Chapados, Camille1 Carnille_Chapados@uqtr.ca
Publikováno v: Journal of Chemical Physics. 9/15/2003, Vol. 119 Issue 11, p5632. 12p. 6 Charts, 8 Graphs.
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Transient optical elements: application to near-field microscopy.
Autor: Simanovskii, D.1, Palanker, D.1, Cohn, K.1, Smith, T.1
Publikováno v: Journal of Microscopy. Jun2003, Vol. 210 Issue 3, p307-310. 4p.
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Mapping of GaAs wafers by quantitative infrared microscopy.
Autor: Dobrilla, P., Blakemore, J. S.
Publikováno v: Journal of Applied Physics. 2/15/1987, Vol. 61 Issue 4, p1442. 7p. 6 Black and White Photographs, 1 Diagram.
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Photobleaching-free infrared near-field microscopy localizes molecules in neurons.
Autor: Generosi, J.1, Margaritondo, G.1, Kropf, M.2, Hirling, H.2, Catsicas, S.2, Johnsson, K.3, Tolk, N. H.4, Piston, D. W.5, Cricenti, A.6
Publikováno v: Journal of Applied Physics. Nov2008, Vol. 104 Issue 10, p106102. 3p. 3 Diagrams.
Zobrazit plný text záznamu
8
Periodical
Infrared imaging microscopes aid in detecting integrated circuit defects.
Autor: Lewis, John johnml@pennwell.com
Publikováno v: Vision Systems Design. Jan2018, Vol. 23 Issue 1, p9-13. 2p.
Zobrazit plný text záznamu
9
Periodical
Near-IR microscopes image through silicon without damaging the finished product.
Autor: BELLINGER, ROBERT1 robert.bellinger@olympus-ossa.com
Publikováno v: Laser Focus World. Dec2017, Vol. 53 Issue 12, p40-41. 2p. 4 Black and White Photographs.
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Scanning for Defects with Microscopes.
Autor: Mule'Stagno, Luciano, Torok, Peter
Publikováno v: Industrial Physicist. Jun1997, Vol. 3 Issue 2, p28. 3p. 2 Color Photographs, 1 Diagram.
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje