Zobrazeno 1 - 10 of 869 pro vyhledávání: '"IDDQ"'
1
Akademický článek
Fault tolerant system based on IDDQ testing.
Autor: Guibane, Badi1, Hamdi, Belgacem1, Mtibaa, Abdellatif1, Bensalem, Brahim2
Publikováno v: International Journal of Electronics. Jun2018, Vol. 105 Issue 6, p1025-1035. 11p.
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
An Ultralow Quiescent Current Power Management System With Maximum Power Point Tracking (MPPT) for Batteryless Wireless Sensor Applications.
Autor: Fan, Shiquan, Wei, Ran, Zhao, Liuming, Yang, Xu, Geng, Li, Feng, Philip X.-L.
Publikováno v: IEEE Transactions on Power Electronics. Sep2018, Vol. 33 Issue 9, p7326-7337. 12p.
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Numerical investigations on dynamic process of muzzle flow.
Autor: Xiao-hai Jiang1 xhjiang@mail.njust.edu.cn, Bao-chun Fan1, Hong-zhi Li1
Publikováno v: Applied Mathematics & Mechanics. Mar2008, Vol. 29 Issue 3, p351-360. 10p. 2 Diagrams, 3 Graphs.
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Current sensing device for micro-IDDQ test.
Autor: Nose, Koichi1, Sakurai, Takayasu1
Publikováno v: Electronics & Communications in Japan, Part 2: Electronics. Sep2001, Vol. 84 Issue 9, p21-27. 7p.
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Free vibration of anti-symmetric angle-ply layered circular cylindrical shells filled with quiescent fluid under first order shear deformation theory.
Autor: Nurul Izyan, M.D.1,2, Aziz, Z.A.1,2, Viswanathan, K.K.1,3 k.viswanathan@kcst.edu.kw
Publikováno v: Composite Structures. Jun2018, Vol. 193, p189-197. 9p.
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
A Near-Threshold Voltage Startup Monolithic Boost Converter with Adaptive Sleeping Time Control.
Autor: Liu, Lianxi1, Zhou, Yiyang1, Mu, Junchao1, Liao, Xufeng1, Zhu, Zhangming1, Yang, Yintang1
Publikováno v: Journal of Circuits, Systems & Computers. Apr2017, Vol. 26 Issue 4, p-1. 19p.
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Studies of the SEMATECH IDDq test data
Autor: Ko, Seok-Bum1 kosby@ele.uri.edu, Guo, Yu-Yau1 guo@ele.uri.edu, Lo, Jien-Chung jcl@ele.uri.edu
Publikováno v: Journal of Systems Architecture. Apr2002, Vol. 47 Issue 10, p831. 16p.
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Possibilities and limitations of IDDQ testing in submicron CMOS.
Autor: Figueras, John, Ferre, Antoni
Publikováno v: IEEE Transactions on Components, Packaging & Manufacturing Technology, Part B. Nov98, Vol. 21 Issue 4, p352. 8p.
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
A simple built-in current sensor for current monitoring in mixed-signal circuits.
Autor: Siskos, S., Hatzopoulos, A.A.
Publikováno v: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement. Dec97, Vol. 46 Issue 6, p1301. 4p. 3 Graphs.
Zobrazit plný text záznamu
10
Periodical
Analysis and Design of Output-Capacitor-Free Low-Dropout Regulators With Low Quiescent Current and High Power Supply Rejection.
Autor: Zhan, Chenchang1, Ki, Wing-Hung2
Publikováno v: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part I: Regular Papers. Feb2014, Vol. 61 Issue 2, p625-636. 12p.
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje