List of Contributors

Autor: I.O. Akhundov, V.Sh. Aliev, V.L. Alperovich, A.P. Anciferov, A.L. Aseev, A.K. Bakarov, I.I. Beterov, M.V. Budantsev, A.A. Bykov, A.V. Chaplik, A. Chin, I.A. Derebezov, D.V. Dmitriev, S.A. Dvoretsky, A.V. Dvurechenskii, M.V. Entin, V.M. Entin, L.I. Fedina, T.A. Gavrilova, K.V. Grachev, V.A. Gritsenko, A.K. Gutakovskii, A.V. Haisler, V.A. Haisler, D.G. Ikusov, D.R. Islamov, E.V. Ivanova, M.M. Kachanova, V.V. Kaichev, A.K. Kalagin, A.N. Karpov, D.M. Kazantsev, S.S. Kosolobov, A.S. Kozhukhov, D.A. Kozlov, V.D. Kuzmin, Z.D. Kvon, A.V. Latyshev, A.S. Mardezov, A.S. Medvedev, N.N. Mikhailov, A.G. Milekhin, D.A. Nasimov, I.G. Neizvestny, L.A. Nenasheva, E.B. Olshanetsky, T.V. Perevalov, A.G. Pogosov, D.A. Pokhabov, V.P. Popov, V.Ya. Prinz, V.G. Remesnik, S.V. Rihlicky, E.E. Rodyakina, D.I. Rogilo, K.N. Romanyuk, N.S. Rudaya, I.I. Ryabtsev, I.V. Sabinina, V.K. Sandyrev, A.A. Saraev, O.I. Semenova, D.V. Sheglov, A.A. Shevyrin, A.A. Shklyaev, V.A. Shvets, N.L. Shwartz, G.Yu. Sidorov, Yu.G. Sidorov, S.V. Sitnikov, E.V. Spesivcev, A.S. Terekhov, S.A. Teys, O.A. Tkachenko, V.A. Tkachenko, A.I. Toropov, D.B. Tretyakov, A.V. Tsarev, I.E. Tyschenko, I.N. Uzhakov, V.S. Varavin, S.A. Vitkalov, A.I. Yakimov, M.V. Yakushev, A.S. Yaroshevich, D.R.T. Zahn, M.V. Zamoryanskaya, E.Yu. Zhdanov, Yu.A. Zhivodkov

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0da5de83dc57a11bf54bce44596bd0a4
https://doi.org/10.1016/b978-0-12-810512-2.00028-7

Preparation of TEM samples from compound semiconductors by chemomechanical polishing

Autor: A. K. Gutakovsky, I.V Sabinina

Publikováno v: Ultramicroscopy. 45:411-415

An original technique for the preparation of TEM samples from II/VI, IV/VI and III/V compound semiconductors is reported. The technique is based on local chemomechanical polishing. These samples do not exhibit surface radiation-damage layers with art

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e7885409a1e30c9b9bf4cc4cbdcb0023
https://doi.org/10.1016/0304-3991(92)90152-a

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.